FX85 ORL光回损测试仪包含激光光源,光功率计和光损耗测试功能,仪表可以在单个光纤上进行单个或者多个波长的光损耗和光回损测试,该测试方式可以有效缩短测试时长。仪表配备的高 灵 敏 度功率计和稳定度光源以及APC连接头可以支持70dB的测试范围。
xWDM网络测试
随着CWDM和DWDM网络在接入网,城域网以及区域网中的增多,一种经济高效的CWDM和DWDM激光光源被应用于施工,系统激活以及故障处理中。跟全波段的光通道测试仪(OCC)配合使用,工程技术人员要保证整个网络包括光分插复用器(OADM)一直到中断目的地的连续性.
广电宽带功率计 FX85
波长范围 (nm)
800到 1700
校准波长 (nm)
标准-850/1300/1310/1490/1550/1625/1650
可选-CWDM ITU-T 694.2 Grid(适用于FX82和FX84)
探测器类型8
InGaAs
功率测试范围 (dBm)
-标准 (PM1)
-高功率 (PM2)9
-70到 +10
-50到 +25
功率测试精度 %, (dB) 12
± 5, (0.22)
线性度,%(dB)
± 2.5, (0.11)
显示分辨率 (dB)
0.01
测试音检测
270/330/1000/2000
接口
固定SC/APC或者SC/UPC
Wave ID (自动)
和VeEX其他光源兼容
可选适配头 (可更换)
ST, SC, FC, LC,通用接口1.25 & 2.5 mm
光回损测试 (ORL) 选件-FX85
光纤类型
单模 9/125um
波长 (nm)
1310/1490/1550/1625
ORL 范围 (APC) (dB) 13
0-65
ORL 不确定度 (dB) 2,5
±0.5(0-50),±1(50-60)
分辨率 (dB)
0.01
激光光源 FX85
光纤类型
单模,9/125um
多模,50/125um
波长 (nm)
1310 /1490/1550/1625
850/1300
波长容限 (nm)
± 2
± 20到50
线宽 (nm)
≤1
≤50/135,40-200nm
输出功率(dBm)3
>-2.5, 0(典型值)
≥20(62.5/125um)
激光安全性
1M等级
功率稳定性 (dB)
≤ ± 0.03 (15 分钟) ± 0.1(8小时)
< ± 0.05 (15 分钟) ± 0.1(8小时)
调制方式
连续波, 270, 1 kHz, 2 kHz
WaveID
支持
光接头
固定(SC/FC/ST/LC)
可选可更换连接适配头 (FC, SC, LC,ST,DIN,E2000)
通用信息
尺寸:164.39 x 100 x 46.93 mm (H x W x D)
重量:420 克
外壳:聚碳酸酯外壳,1米跌落测试
电池:内置可充电锂电池
ORL模式,不带背光大于14小时
OLS模式,不带背光大于55小时
(FX83/FX84/FX85)
OPM模式,不带背光大约34小时
(测量实时信号)
连通:蓝牙(可选)
电源:Micro USB接口,5 VDC充电器
PC连接:Micro USB,PC软件用于数据传输
显示屏:TFT LCD支持背光
操作温度:-10℃ 到50℃
储藏温度:-20℃到70℃
相对湿度:0% 到 95% 非凝结